1、MPD晶圓測試
測試設備：激光(guang)脈沖源表P300+測試探針(zhen)臺
異常現象：測試中存在一個3nA左(zuo)右(you)的漏電流(liu)
異常原因：測試現場(chang)的(de)連接線屏蔽層接地(di)不達標(biao)，外界(jie)電(dian)磁環境的(de)作用下使設(she)備對(dui)大地(di)的(de)電(dian)位發生變化，造(zao)成設(she)備工作不穩定 優化措施：將屏蔽層接地 2、三極管測試 測試設備：2臺直流變壓器源表(biao)S300+測(ce)試探針臺 異常現象：源表(biao)輸出0-3V的電(dian)壓(ya)掃描，當輸出的電(dian)壓(ya)小于0.5V時(shi)，源表(biao)回讀(du)的電(dian)壓(ya)值為-0.5V 錯誤愿意：探頭(tou)臺不有的接(jie)地，探頭(tou)臺節構上有金屬(shu)質，在(zai)通電(dian)的環鏡中會(hui)有靜(jing)電(dian)反應，進而對各種測(ce)試導致帶動應響 改進對策：將檢測器(qi)臺實現高壓導線(xian)和接入中國大(da)地(di) 3、芯片測試 測試設備：直流電源源表(biao)S300+測試探針(zhen)臺 異常現象：源表未轉(zhuan)換(huan)，測試(shi)探針冒(mao)火星子
圖：無效檢測-電極冒電火花
異常原因：三同水平線纜GUARD走勢浮空。GUARD走勢如連入合理的，其電勢與走勢層主要不一，，因此漏電很低，若想對走勢充當好幾個定的保護性目的；不過GUARD走勢浮空，其與走勢層的電勢差更大，其實漏電更大，對走勢的會影響相當大 優化措施：將GUARD移動電磁(ci)波連(lian)通源表，使GUARD移動電磁(ci)波促使護理影響
4、PD測試
測試設備：直流源表S300+探針臺
異常現象：源表在(zai)100nA的量程下(xia)，輸出(chu)-2V電(dian)壓，實際顯(xian)示(shi)-2.69V
圖：發(fa)現異常(chang)公測最終結果
異常原因：客(ke)戶使用的同(tong)軸(zhou)線接觸(chu)不良，探針(zhen)臺(tai)沒有接地 優化措施：更換新的同軸線，將探針臺通過(guo)導線接入(ru)大地(di) 圖：優化網絡后各種測(ce)試可(ke)是
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