當前位置:国产精品一区视频-国产午夜亚洲精品午夜鲁丝片-国产免费一区视频观看免费-国产一区二区在线观看视频 > 產品中心 > 半導體測試機 > PMST功率器件靜態(tai)參數測試系統(tong)
● 高電壓達3500V(最大(da)擴展至12kV)
● 大電流(liu)達6000A(多模塊(kuai)并聯)
● nA級漏電(dian)流μΩ級導(dao)通電(dian)阻
● 高(gao)精度測量0.1%
● 模塊化配置(zhi),可添加或升級(ji)測量單元,可提供數據IV、CV、跨導(dao)等充足功用(yong)的總(zong)體測試(shi)英文
● 測試效率高,自動切換、一(yi)鍵測試
● 溫度范圍廣(guang),支(zhi)持(chi)常溫、高溫測試
● 兼容多種封裝,根據(ju)測試需求(qiu)定制夾(jia)具



測試項目
● 二極管:反向擊穿電壓VR、反向漏電流IR、正向電壓VF、正向電流IF、電容值Cd、I-V曲線、C-V曲線
● 三極管:V(BR)CEO、V(BR)CBO、V(BR)EBO、ICBO、VCE(sat)、VBE(sat)、IC、IB、Ceb、增益hFE,輸入特性曲線、輸出特性曲線、C-V特性曲線
● Si MOS/IGBT/SiC MOS/GaN HEMT:V(BR)DSS/V(BR)CES、IDSS/ICES、VCE(sat)、RDS(on)、VSD/VF、VGS(th)/VGE(th)、IGSS/IGES柵極(ji)內阻Rg、輸入電(dian)(dian)容(rong)Ciss/Cies、輸出電(dian)(dian)容(rong)Coss/Coes、反向傳輸電(dian)(dian)容(rong)Crss/Cres、跨導gfs、輸出特(te)性曲線、轉移特(te)性曲線、C-V特(te)性曲線
● 光耦(ou)(四端口以下):IF、VF、V(BR)CEO、VCE(sat)、ICEO、IR、輸(shu)入電容CT、輸(shu)出電容CCE、電流傳輸(shu)比CTR、隔(ge)離電容CIO
系統優勢
1、IGBT等大功率器件(jian)由于其功率特點(dian)極易產(chan)生(sheng)大量(liang)熱量(liang),施加應力時(shi)間(jian)長,溫度迅速(su)上(shang)升,嚴重時(shi)會使器件(jian)損壞,且不符(fu)合器件(jian)工作特性。普賽斯直(zhi)流電控制模塊構建的日子(zi)高(gao)于5ms,在測試(shi)圖(tu)片的過程中可限制待測物(wu)加電日子(zi)的發熱怎(zen)么辦。

2、壓力下(xia)漏(lou)電流的(de)公(gong)測軟件(jian)力量無可取代(dai),公(gong)測軟件(jian)覆蓋面(mian)率遠(yuan)(yuan)遠(yuan)(yuan)超(chao)過國際(ji)企業(ye)品牌(pai)。市(shi)面(mian)上絕(jue)大多數器件(jian)的(de)規(gui)格(ge)書顯示,小模塊在高溫測試(shi)(shi)時漏(lou)電流一般大于5mA,而車規(gui)級三相半(ban)橋高溫下(xia)漏(lou)電大于50mA。以HITACH Spec.No.IGBT-SP-05015 R3規(gui)格(ge)書為例(li):3300V,125℃測試(shi)(shi)條件(jian)下(xia)ICES典型值14mA,最大40mA。普賽斯靜態系統(tong)高壓模塊測試(shi)(shi)幾乎(hu)可以完美應對所(suo)有類型器件(jian)的(de)漏(lou)電流測試(shi)(shi)需求。
IGBT冗(rong)余測(ce)驗(yan)操(cao)作系統大瞬時電流(liu)值控制器:50us—500us 的可調式瞬時電流(liu)值脈寬,逐漸(jian)邊沿在(zai) 15us(明顯(xian)值),降低待測(ce)物在(zai)測(ce)驗(yan)操(cao)作過(guo)程中的起熱,使測(ce)驗(yan)然而會更加為準。下(xia)圖為 1000A 波形(xing):

4、短時(shi)間協調性的(de)客(ke)制化(hua)組(zu)(zu)合夾具防止策劃(hua)方案:強(qiang)大的(de)測(ce)試夾具解決方案對(dui)于保證(zheng)操作人員安全和支(zhi)持各(ge)種功率器件封裝(zhuang)類型極(ji)為重要。不論器件的(de)大小或形狀如何,普賽(sai)斯均可(ke)以快速響應(ying)用戶需求(qiu),提供靈活的(de)客(ke)制化(hua)夾具方案。夾具具有(you)低(di)阻抗、安裝(zhuang)簡(jian)單(dan)、種類豐富等特點,可(ke)用于二極(ji)管(guan)、三極(ji)管(guan)、場效應(ying)晶(jing)體管(guan)、IGBT、SiC MOS、GaN等單(dan)管(guan),模組(zu)(zu)類產(chan)品的(de)測(ce)試。
| 項目 | 最大電壓 | 最大電流 | 精度 | 漏電流測試量程 |
|---|---|---|---|---|
| 集金屬電極-發射成功極 | 3500V | 6000A | 0.1% | 1μA-100mA |
| 項目 | 最大電壓 | 最大電流 | 精度 | 最小電流量程 |
|---|---|---|---|---|
| 柵極-反射極 | 300V | 1A(交流電)/10A(脈寬) | 0.1% | 10nA |
| 項目 | 基本測試精度 | 頻率范圍 | 電容值范圍 |
|---|---|---|---|
| 濾波電容測試方法 | 0.05% | 0.05% | 0.01pF-9.9999F |
PMST馬力電子元器件靜態變量系統不同于規模調試規格型號參考使用:
| 型號 | 大電流源測單元規格 | 大電流源測單元數量 | 高壓源測單元規格 | 高壓源測單元數量 | 最大電壓/電流 |
|---|---|---|---|---|---|
| PMST1203 | 300A/30V | 1 | 1200V/100mA | 1 | 1200V/300A |
| PMST1210 | 1000A/18V | 1 | 1200V/100mA | 1 | 1200V/1000A |
| PMST2210 | 1000A/18V | 1 | 2200V/100mA | 1 | 2200V/1000A |
| PMST3510 | 1000A/18V | 1 | 3500V/100mA | 1 | 3500V/1000A |
| PMST3520 | 1000A/18V | 2 | 3500V/100mA | 1 | 3500V/2000A |
| PMST8030 | 1000A/18V | 3 | 8000V/100mA | 1 | 8000V/3000A |
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