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PMST功率器件靜態參數測試系統

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        普賽斯PMST最大輸出精度電子元電子器件封裝空態式的性能指標測式平臺,集三種在線測試和剖析模塊分立式,就能夠識貧在線測試不一樣封裝結構類型最大輸出精度電子元電子器件封裝(MOSFET、BJT、IGBT等)的空態式的性能指標,存在高電阻和大直流電壓值性能指標、μΩ級高精度在線測試、nA級直流電壓值在線測試效果等共同點。支持系統油田傳統模式下在線測試最大輸出精度電子元電子器件封裝結電感器,如進入電感器、輸出精度電感器、反相傳導電感器等。        普賽斯PMST工作電壓電子元件外部基本參數檢測的機系統顯卡配置有各種檢測的標段傳感器,傳感器化的來設計檢測的具體方法敏銳,并能較大方便簡潔訪客加上或優化檢測的傳感器,適合檢測的工作電壓電子元件快速變幻的的需求。

產品特點

●   高電壓達3500V(最大(da)擴展至12kV)

●   大電流(liu)達6000A(多模塊(kuai)并聯)

●   nA級漏電(dian)流μΩ級導(dao)通電(dian)阻

●   高(gao)精度測量0.1%

●   模塊化配置(zhi),可添加或升級(ji)測量單元,可提供數據IV、CV、跨導(dao)等充足功用(yong)的總(zong)體測試(shi)英文

●   測試效率高,自動切換、一(yi)鍵測試

●  ; 溫度范圍廣(guang),支(zhi)持(chi)常溫、高溫測試

●   兼容多種封裝,根據(ju)測試需求(qiu)定制夾(jia)具

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測試項目

●   二極管:反向擊穿電壓VR、反向漏電流IR、正向電壓VF、正向電流IF、電容值Cd、I-V曲線、C-V曲線

●   三極管:V(BR)CEO、V(BR)CBO、V(BR)EBO、ICBO、VCE(sat)、VBE(sat)、IC、IB、Ceb、增益hFE,輸入特性曲線、輸出特性曲線、C-V特性曲線

●   Si MOS/IGBT/SiC MOS/GaN HEMT:V(BR)DSS/V(BR)CES、IDSS/ICES、VCE(sat)、RDS(on)、VSD/VF、VGS(th)/VGE(th)、IGSS/IGES柵極(ji)內阻Rg、輸入電(dian)(dian)容(rong)Ciss/Cies、輸出電(dian)(dian)容(rong)Coss/Coes、反向傳輸電(dian)(dian)容(rong)Crss/Cres、跨導gfs、輸出特(te)性曲線、轉移特(te)性曲線、C-V特(te)性曲線

●   光耦(ou)(四端口以下):IF、VF、V(BR)CEO、VCE(sat)、ICEO、IR、輸(shu)入電容CT、輸(shu)出電容CCE、電流傳輸(shu)比CTR、隔(ge)離電容CIO



系統優勢

1、IGBT等大功率器件(jian)由于其功率特點(dian)極易產(chan)生(sheng)大量(liang)熱量(liang),施加應力時(shi)間(jian)長,溫度迅速(su)上(shang)升,嚴重時(shi)會使器件(jian)損壞,且不符(fu)合器件(jian)工作特性。普賽斯直(zhi)流電控制模塊構建的日子(zi)高(gao)于5ms,在測試(shi)圖(tu)片的過程中可限制待測物(wu)加電日子(zi)的發熱怎(zen)么辦。

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2、壓力下(xia)漏(lou)電流的(de)公(gong)測軟件(jian)力量無可取代(dai),公(gong)測軟件(jian)覆蓋面(mian)率遠(yuan)(yuan)遠(yuan)(yuan)超(chao)過國際(ji)企業(ye)品牌(pai)。市(shi)面(mian)上絕(jue)大多數器件(jian)的(de)規(gui)格(ge)書顯示,小模塊在高溫測試(shi)(shi)時漏(lou)電流一般大于5mA,而車規(gui)級三相半(ban)橋高溫下(xia)漏(lou)電大于50mA。以HITACH Spec.No.IGBT-SP-05015 R3規(gui)格(ge)書為例(li):3300V,125℃測試(shi)(shi)條件(jian)下(xia)ICES典型值14mA,最大40mA。普賽斯靜態系統(tong)高壓模塊測試(shi)(shi)幾乎(hu)可以完美應對所(suo)有類型器件(jian)的(de)漏(lou)電流測試(shi)(shi)需求。


3、前者,VCE(sat)測式是研究方法 IGBT 導通工作端電壓的重點參數表,對旋轉開關工作端電壓同樣有一段的應響。要求在使用髙速窄激光脈沖發生器直流端電壓源,激光脈沖發生器上漲沿時速要充足的快時可以減少集成電路芯片低熱,一并機 要求有數據同步取樣端電壓功能表。


IGBT冗(rong)余測(ce)驗(yan)操(cao)作系統大瞬時電流(liu)值控制器:50us—500us 的可調式瞬時電流(liu)值脈寬,逐漸(jian)邊沿在(zai) 15us(明顯(xian)值),降低待測(ce)物在(zai)測(ce)驗(yan)操(cao)作過(guo)程中的起熱,使測(ce)驗(yan)然而會更加為準。下(xia)圖為 1000A 波形(xing):

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4、短時(shi)間協調性的(de)客(ke)制化(hua)組(zu)(zu)合夾具防止策劃(hua)方案:強(qiang)大的(de)測(ce)試夾具解決方案對(dui)于保證(zheng)操作人員安全和支(zhi)持各(ge)種功率器件封裝(zhuang)類型極(ji)為重要。不論器件的(de)大小或形狀如何,普賽(sai)斯均可(ke)以快速響應(ying)用戶需求(qiu),提供靈活的(de)客(ke)制化(hua)夾具方案。夾具具有(you)低(di)阻抗、安裝(zhuang)簡(jian)單(dan)、種類豐富等特點,可(ke)用于二極(ji)管(guan)、三極(ji)管(guan)、場效應(ying)晶(jing)體管(guan)、IGBT、SiC MOS、GaN等單(dan)管(guan),模組(zu)(zu)類產(chan)品的(de)測(ce)試。



產品選型

項目最大電壓最大電流精度漏電流測試量程
集金屬電極-發射成功極 3500V6000A 0.1% 1μA-100mA
項目最大電壓最大電流精度最小電流量程
柵極-反射極 300V1A(交流電)/10A(脈寬) 0.1% 10nA
項目基本測試精度頻率范圍電容值范圍
濾波電容測試方法 0.05%  0.05%0.01pF-9.9999F


PMST馬力電子元器件靜態變量系統不同于規模調試規格型號參考使用:

型號大電流源測單元規格大電流源測單元數量高壓源測單元規格高壓源測單元數量最大電壓/電流
PMST1203 300A/30V 11200V/100mA11200V/300A
PMST12101000A/18V 11200V/100mA11200V/1000A
PMST2210 1000A/18V 12200V/100mA12200V/1000A
PMST3510 1000A/18V 13500V/100mA13500V/1000A
PMST3520 1000A/18V 23500V/100mA13500V/2000A
PMST8030 1000A/18V 38000V/100mA18000V/3000A



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