
PMST系列功率器件靜態參數測試系統集多種測(ce)量(liang)和分(fen)析功(gong)能(neng)于一(yi)體(ti)(ti),不(bu)僅提供IV、CV、跨導等多元化的測(ce)試(shi)功(gong)能(neng),具備高電(dian)壓和大電(dian)流(liu)特性(10kV/6000A),以及(ji)μΩ級(ji)精確(que)電(dian)阻測(ce)量(liang)和nA級(ji)漏(lou)電(dian)流(liu)測(ce)量(liang)能(neng)力,能(neng)夠全(quan)面(mian)滿足從基礎功(gong)率二(er)極管、MOSFET、BJT、IGBT到(dao)寬禁帶半導體(ti)(ti)SiC、GaN等晶圓、芯片、器件及(ji)模(mo)塊(kuai)的靜態參數表征(zheng)和測(ce)試(shi)需求(qiu),為功(gong)率半導體(ti)(ti)行(xing)業提供穩定可靠的測(ce)試(shi)解決(jue)方案(an)。

值得一提的是,PMST系列功率器件靜態參數測試系統核心的E系列高電壓源測單元、HCPL100高電流脈沖電源、P系列高精度臺式脈沖源表均由普賽斯儀表自(zi)主研發,全面突破(po)高端(duan)國際(ji)設(she)備技(ji)術瓶頸,實現自(zi)主可控。模塊(kuai)化的設(she)計使得測(ce)試方法更加靈(ling)活,用戶可以根據實際(ji)需(xu)求添(tian)加或升(sheng)級測(ce)量模塊(kuai),適應功(gong)率器件不斷變(bian)化的測(ce)試需(xu)求。
此外,針對操作人員安全以及適應各種功率器件封裝類型的需求,定制化的測試夾具顯得尤(you)為重(zhong)要(yao)。普賽斯(si)儀表針對市場上多樣化的功率(lv)半導體產(chan)品封裝(zhuang)類(lei)型,提供了一(yi)整套全面(mian)且(qie)精細(xi)的夾(jia)具(ju)(ju)解決方案。這些(xie)夾(jia)具(ju)(ju)不僅具(ju)(ju)備(bei)低阻抗(kang)、安裝(zhuang)便捷(jie)等顯著特(te)點,而且(qie)種類(lei)繁(fan)多,能夠滿足SiC單管、模組類(lei)產(chan)品的測(ce)試。





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